什么是光谱分类光谱角度制图法
光谱角度制图法(SAM, 即夹角余弦方法)通过计算一个测试光谱 (象元光谱) 与一个参考光谱之间的“角度”来确定它们两者之间的相似性。参考光谱可以是实验室光谱或野外测定光谱或是从图像上提取的象元光谱。这种方法假设图像数据已被缩减到“ 视反射率”，即所有暗辐射和路经辐射偏差已经去除。它被用于处理一个光谱维数等于波段数的光谱空间中的一个向量。下面通过两波段(二维)的一个简单例子来说明参考光谱和测试光谱的关系。它们的位置可考虑是维空间中的两个光谱点。各个光谱点连到原点可以代表所有不同照度的物质。照度低的象元比起具有相同光谱特征但照度高的象元往往集中在原点附近(暗点)。
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