双折射型干涉成像光谱仪—空间调制型

双折射型干涉成像光谱仪是利用双折射偏振干涉方法，在垂直于狭缝(用于在推扫型仪器中选出目标上的一个行)的方向同时产生物面像元辐射的整个干涉图。它由前置光学系统、狭缝、准直镜、起偏器、Wollaston棱镜检偏器再成像系统和探测器等部分构成。前置光学系统将目标成像于入射狭缝上(即准直镜的前焦面) ,然后经准直镜入射到起偏器。沿起偏器偏振化方向的线偏振光入射到Wollaston棱镜，该棱镜将入射光分解为两束强度相等的寻常光(o光，垂直于主平面振动)和非寻常光(e光，平行于主平面振动)。这两束振动方向垂直的线偏振光经检偏器后,变成与检偏器偏振化方向- 致的二线偏振光,经过再成像系统后,在探测器方向上就可以得到干涉图。探测器上每.行对应于入射狭缝上不同的点,这样就可以得到沿狭缝长度方向的空间分辨率。